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'9783659180767' 검색 결과 총 1
  • [외국도서] Test Vector Reordering Method for Low Power Testing (Paperback) - Test Vector Reordering Method for Minimizing Power Dissipation in VLSI Circuits using Functional Metrics
  • K. Paramasivam, Gunavathi, K.
  • LAP Lambert Academic Publishing | 2012년 07월
  • 94,500원 (10% 할인 / 4,730원)
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