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[외국도서] Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies (Hardcover)
- Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
파트리크 지라르
,
Alberto Bosio
,
Luigi Dilillo
Springer Verlag
|
2009년 11월
|
2009년 11월
165,590
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