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  • Reliability, Testing, and Characterization of Mems/Moems III (Paperback) - Proceedings of Spie, 26-28 January 2004, San Jose, California, Usa
  • Rajeshuni Ramesham, Danelle M. Tanner (엮은이)
  • Society of Photo Optical | 2004년 01월
  • 146,370원 (18% 할인 / 7,320원)
  • 택배로 주문하면 10월 30일 출고 변경
  • Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Moems/mems and Nanodevices XII : 4-5 February 2013, San Francisco, California, United States (Paperback)
  • Rajeshuni Ramesham, Herbert R. Shea (엮은이)
  • SPIE Press | 2013년 04월
  • 147,170원 (10% 할인 / 4,420원)
  • 택배로 주문하면 10월 23일 출고 변경

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