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[eBook Code] Advanced Interconnects for ULSI Technology (eBook Code, 1st)
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Wiley | 2012년 02월 | 2012년 02월
267,590원 (20% 할인)
택배로 주문하면 10월 17일 출고 변경

Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225 (Paperback)
James R. Lloyd, Paul S. Ho, Frederick G. Yost
Cambridge Univ Pr | 2014년 06월 | 2014년 06월
53,550원 (10% 할인 / 1,610원)
택배로 주문하면 10월 25일 출고 변경

Advanced Interconnects for Ulsi Technology (CD-ROM, 2nd)
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho (엮은이)
John Wiley & Sons Inc | 2012년 02월 | 2012년 02월
305,280원 (18% 할인 / 15,270원)
택배로 주문하면 10월 23일 출고 변경

Advanced Interconnects for ULSI Technology (Hardcover)
Paul S. Ho, Mikhail R. Baklanov (엮은이)
John Wiley & Sons Inc | 2012년 04월 | 2012년 04월
342,850원 (18% 할인 / 17,150원)
택배로 주문하면 10월 23일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: 11th International Workshop (Hardcover, 2010)
Shinichi Ogawa, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Amer Inst of Physics | 2010년 12월 | 2010년 12월
207,700원 (18% 할인 / 10,390원)
택배로 주문하면 10월 25일 출고 변경

Low Dielectric Constant Materials for Ic Applications (Hardcover)
Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei William Lee
Springer Verlag | 2002년 11월 | 2002년 11월
229,060원 (18% 할인 / 11,460원)
택배로 주문하면 11월 4일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Third International Workshop: Palo Alto, CA, June 1995 (Hardcover)
Paul S. Ho, Che-Yu Li, John Bravman
Amer Inst of Physics | 1998년 04월 | 1998년 04월
195,160원 (18% 할인 / 9,760원)
택배로 주문하면 10월 25일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Avs Series 13 (Hardcover) - First International Workshop, Ithaca, Ny, 1991
Paul S. Ho, Paul Totta, Che-Yu Li (엮은이)
Amer Inst of Physics | 1998년 03월 | 1998년 03월
132,430원 (18% 할인 / 6,630원)
택배로 주문하면 10월 25일 출고 변경

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 (Paperback)
Harold J. Frost, Paul S. Ho, William F. Filter, Kenneth P. Rodbell
Cambridge Univ Pr | 2014년 06월 | 2014년 06월
43,760원 (18% 할인 / 2,190원)
택배로 주문하면 11월 4일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Ninth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization (Hardcover)
Shinichi Ogawa, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Amer Inst of Physics | 2007년 11월 | 2007년 11월
138,000원 (18% 할인 / 6,900원)
택배로 주문하면 10월 25일 출고 변경

Low Dielectric Constant Materials for IC Applications (Paperback, Softcover Repri)
Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei William Lee (엮은이)
Springer Verlag | 2012년 10월 | 2012년 10월
229,060원 (18% 할인 / 11,460원)
택배로 주문하면 11월 4일 출고 변경

Electronic Packaging Materials Science VI: Volume 264 (Hardcover)
Paul S. Ho, Che-Yu Li, Kenneth A. Jackson (엮은이)
Materials Research Society | 1992년 11월 | 1992년 11월
38,290원 (18% 할인 / 1,920원)
택배로 주문하면 10월 22일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Tenth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization (Hardcover)
Shinichi Ogawa, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Amer Inst of Physics | 2009년 06월 | 2009년 06월
168,670원 (18% 할인 / 8,440원)
택배로 주문하면 10월 25일 출고 변경

[eBook Code] Advanced Interconnects for ULSI Technology (eBook Code, 1st)
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Wiley | 2012년 02월 | 2012년 02월
267,590원 (20% 할인)
택배로 주문하면 10월 17일 출고 변경

[eBook Code] Advanced Interconnects for ULSI Technology (eBook Code, 1st)
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Wiley | 2012년 02월 | 2012년 02월
267,590원 (20% 할인)
택배로 주문하면 10월 17일 출고 변경

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