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Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach (Hardcover) - Scanning Probe Microscopy Approach
M. Alexe, A. Gruverman (엮은이)
Springer Verlag | 2004년 04월 | 2004년 04월
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Wafer Bonding: Applications and Technology (Hardcover, 2004) - Applications and Technology
M. Alexe, U. Gosele (엮은이)
Springer Verlag | 2004년 05월 | 2004년 05월
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