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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Hardcover, New) - Design for Testability
Laung-terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen (엮은이)
Morgan Kaufmann Pub | 2006년 06월 | 2006년 06월
129,070원 (18% 할인 / 6,460원)
택배로 주문하면 8월 14일 출고 변경

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Paperback)
Laung-terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Morgan Kaufmann Publishers | 2006년 07월 | 2006년 07월
129,070원 (18% 할인 / 6,460원)
택배로 주문하면 8월 13일 출고 변경

Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test (Hardcover) - Synthesis, Verification, and Test
Laung-terng Wang, Kwang-Ting Cheng (엮은이)
Morgan Kaufmann Pub | 2009년 02월 | 2009년 02월
157,850원 (18% 할인 / 7,900원)
택배로 주문하면 8월 14일 출고 변경

System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability Volume . (Hardcover)
Nur A. Touba , Laung-terng Wang, Charles E. Stroud (엮은이)
Morgan Kaufmann Pub | 2007년 11월 | 2007년 11월
121,900원 (18% 할인 / 6,100원)
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