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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices (Hardcover, 2, Revised)
James R. Lloyd, Milton Ohring
Academic Pr | 2014년 12월 | 2014년 12월
219,760원 (18% 할인 / 10,990원)
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Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225 (Paperback)
James R. Lloyd, Paul S. Ho, Frederick G. Yost
Cambridge Univ Pr | 2014년 06월 | 2014년 06월
52,750원 (10% 할인 / 1,590원)
택배로 주문하면 9월 27일 출고 변경

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