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  • Secondary Ion Mass Spectrometry Sims III: Proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30-Septem (Paperback, Softcover Repri)
  • J. Giber, A. Benninghoven, J. Laszlo (엮은이)
  • Springer Verlag | 2012년 07월
  • 154,750원 (18% 할인 / 7,740원)
  • 택배로 주문하면 12월 4일 출고 변경
  • Defect Complexes in Semiconductor Structures: Proceedings of the International School Held in M?raf?ed, Hungary, September 13 - 17, 1982 (Paperback)
  • F. Beleznay, J. Giber, J. Laszlo, I. C. Szep (엮은이)
  • Springer Verlag | 1983년 02월
  • 154,750원 (18% 할인 / 7,740원)
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