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- Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition (Hardcover, 3, Corrected 2003.)
- Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph I. Goldstein, Patrick Kchlin, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Michael, Joseph R.
- Plenum Pub Corp | 2003년 01월 | 2003년 01월
- 180,940원 (18% 할인 / 9,050원)
- 택배로 주문하면 9월 25일 출고 변경
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