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Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics - 2004 (Paperback)
T. M. Lu
,
R. J. Carter
,
C. S. Hau-riege
,
G. M. Kloster
,
S. E. Schulz
Cambridge Univ Pr
|
2014년 06월
|
2014년 06월
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