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  • Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach (Hardcover) - Scanning Probe Microscopy Approach
  • M. Alexe, A. Gruverman (엮은이)
  • Springer Verlag | 2004년 04월
  • 246,740원 (18% 할인 / 12,340원)
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